IS MIK 01 Zuverlässigkeit in der Mikroelektronik
IS MIK 01
Zuverlässigkeit in der Mikroelektronik
Kurs
PD Dr.-Ing. Kirsten Weide-Zaage
Uni Hannover
Sa 18.8. 11.00-12.30 und
13.30-17.00 Uhr
So 19.8. 11.00-12.30 und
13.30-17.00 Uhr
Zielgruppe: offen
Voraussetzung: Interesse an Elektronik, Grundkenntnisse in Mathematik
Anforderung: Informationsaustausch vor dem Sommerstudium, Übungen beim und Ausarbeitung nach dem Sommerstudium
Teilnehmerinnen: 20
Credit Points (ECTS): 1
Anerkennung in Uni Bremen: (General Studies VAK allgemein) META-2012/IS.2012.MIK.01
(Digitale Medien VAK) (keine Anerkennung)
(Informatik VAK) 03-BU-2/IS.2012.MIK.01 (Freie Wahl); auf Antrag wählbar für Master
(Produktionstechnik) anerkannt im Modul General Studies
In jedem modernen Gerät oder im Bereich automotive Systeme werden heute zunehmend mikroelektronische Komponenten verbaut, die den Umgang und die Bedienung komfortabler gestalten sollen. Die Zuverlässigkeit der einzelnen Komponenten bestimmt dabei letztlich die Gesamtlebensdauer. Der Kurs behandelt die Grundlagen, die zum Verständnis von Zuverlässigkeitsaspekten notwendig sind. Mit Hilfe von beschleunigten Belastungstests sowie Simulationen ist die Bestimmung der Zuverlässigkeit der Komponenten möglich. Dazu gehören die Auswahl geeigneter Materialparameter, Testbedingungen und Teststrukturen. Die Modellbildung und Validierung für simulationstechnische Untersuchungen werden erläutert. Ausfallmechanismen und deren Charakterisierung werden beispielhaft behandelt.
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